X-123は、ペルチェ素子によって検出部を冷却し、検出部、デジタルパルスプロセッサー部とパワーサプライをコンパクトなケースに納めたスペクトル測定装置です。
デジタル波形処理回路の採用により、アナログタイプのものより高いスループットと安定性を有します。機器のサイズがコンパクトで低消費電力かつシンプルなI/Fなので簡単にご利用できます。

• コンパクトなサイズに検出部、プリアンプ、デジタルプロセッサー、パワーサプライ、Ｉ／Ｆ機能を凝縮したスペクトロスコピーシステムです。
• 対象とする放射線のエネルギーに対して最適な測定レンジとなる半導体センサーを選択することができます。
• 軽量、低消費電力
• ＰＣとのＩ／Ｆを有します。

• 検出器タイプ： シリコンドリフト検出器（FAST SDD）
• エネルギ分解能： 122 ～ 129 eV FWHM @ 5.9 keV (@ 4 µs peaking time)
• エネルギーレンジ： 2 ～ 30 keV(Be窓)。より低エネルギーではC1 or C2 windowを推奨します
• 検出部サイズ：25mm2、70mm2
  70 mm² FAST SDDについてはこちらをご覧ください
• 検出器厚： 500μm、1000μm
• 検出器窓厚：
  0.5 mil (12.5 µm) Be窓
  C1 window (150 nm Si3N4、250 nm Alコーティング)、C2 window (40 nm Si3N4、30 nm Alコーティング)
  C1、C2 windowについてはこちらをご覧ください
• カウントレート： 1,000,000 CPS以上
• MCA チャンネル数： 8k, 4k, 2k, 1k, 0.5k, or 0.25k ch (ソフトウェア制御)
• インタフェース
  USB 2.0
  RS232C
  Ethernet 10base-T
• 公称入力： +5 VDC @ 500 mA
• 入力レンジ： 4 V ～ 6 V (300～200 mA, 最大500mA)
• 消費電力： <2.5 Watt